基于FPGA的集成運放參數測試儀

基于FPGA的數字式集成運放參數測試儀摘要：本設計在國家標準規定的輔助運放測試法的基礎上，分析了影響運算放大器參數測試精度和穩定性的諸多原因和因素，采取了在被測運放的反饋網(wǎng)絡(luò )中引入二次超前補償等針對性的措施，對運算放大器自動(dòng)參數測試提出了優(yōu)化的設計方法。
本文描述了通用型運算放大器參數自動(dòng)測試系統的設計。作品能夠測試輸入失調電壓VIO，輸入失調電流IIO，開(kāi)環(huán)增益AVD，交流共模抑制比KCMR和基極偏置電流IIb等參數。通過(guò)菜單選擇，可進(jìn)行單參數測量或多參數自動(dòng)測量，其結果顯示于液晶屏上并可通過(guò)微型打印機打印。作品還具有將被測運放閉環(huán)幅頻特性曲線(xiàn)顯示于模擬示波器上的功能。
運放參數主測試電路[1]采用輔助放大器測試法設計，通過(guò)相位補償網(wǎng)絡(luò )消除電路自激現象。不同參數測試電路及量程的自動(dòng)切換通過(guò)開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現。系統高速掃頻信號源通過(guò)DDS電路產(chǎn)生，而5Hz交流測試信號源利用D/A實(shí)現。由于采取了較好的隔離和抗干擾措施，使系統穩定性及測試精度得到大大提高。 采取FPGA芯片使系統控制更加穩定，具備較好的擴展能力。通過(guò)自制測試電路（參照國標GB342-82）對本測試儀定標，使作品的各項參數測試能夠有較好的精度。
關(guān)鍵詞：集成運放； 參數測試；自動(dòng)測試系統； FPGA. BASED ON FPGA DIGITAL INTEGRATED FUNNCTIONAL PARAMETER TESTERAbstract: Based on the assistant test methods of OA mentioned in the national standard, a lot of factors are considered, which influence the precision

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