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10kV配電真空斷路器觸頭熔焊問(wèn)題研究
摘要:本文對真空開(kāi)關(guān)電器觸頭系統進(jìn)行簡(jiǎn)化,建立導電斑點(diǎn)簡(jiǎn)化模型。利用電路原理模擬溫度場(chǎng)研究溫升,得出合閘過(guò)程中觸頭斑點(diǎn)的發(fā)熱特性。仿真中主要研究了觸頭材料、涌流、涌流相位、合閘速度、觸頭彈跳等問(wèn)題。
關(guān)鍵詞:熔焊;合閘速度;彈跳;涌流;觸頭材料
一、概述
觸頭是真空開(kāi)關(guān)電器實(shí)現電路轉換的重要部件。使用過(guò)程中,觸頭會(huì )遇到非常復雜的情況,最嚴重的損壞是熔焊。本文通過(guò)仿真的方式研究涌流、觸頭彈跳、觸頭合閘瞬間電流相位等因素在觸頭熔焊中的作用大小。
二、觸頭表面模型簡(jiǎn)化
任何經(jīng)過(guò)精細加工的名義表面,實(shí)際上都是粗糙不平的。本文將觸頭凹凸不平的表面簡(jiǎn)化為布滿(mǎn)全表面的一簇毛刺。電極接觸時(shí)毛刺受到擠壓變形,實(shí)際接觸面積始終為毛刺的頂部,即導電斑點(diǎn)。導電斑點(diǎn)的物理模型簡(jiǎn)單假設為圓臺。本文把10kV真空斷路器電極表面的導電斑點(diǎn)集中簡(jiǎn)化為一個(gè)大的導電斑點(diǎn)。
三、仿真研究方法
當兩個(gè)觸頭在操動(dòng)機構的推動(dòng)下開(kāi)始相互接觸時(shí),在接觸力的作用下觸頭表面發(fā)生壓縮形變,假設其毛刺的體積不變,并且在毛刺始終保持為簡(jiǎn)單的圓臺形狀。對電流加熱作用下電極表面的溫升用有限元法和有限差分法進(jìn)行求解計算非常困難。本文采用對熱力系統進(jìn)行電模擬的方法。對于本文中的電極模型,計算中將觸頭斑點(diǎn)沿軸向分為很多小的導電單元,它們的厚度呈等比數列。模擬其電流加熱過(guò)程的電路模型如圖1所示。
Cti(i=1-m)代表每個(gè)導體單元的熱容,其上電壓就等于給導體單元的溫度,Rti(i=1-m-1)代表每?jì)蓚(gè)導體單元之間的熱阻,流過(guò)其上的電流對應著(zhù)相鄰導體單元熱傳導的熱流量。Pei表示每個(gè)導體單元因電流加熱而產(chǎn)生的歐姆發(fā)熱功率。
對上述模擬電路進(jìn)行求解,根據電路原理,屬于直流電路的瞬態(tài)響應求解。本文中的模擬電路中有m個(gè)電容,電路為m階電路,用laplace變換的方法,在復頻域對電路進(jìn)行求解。
四、仿真結果分析
仿真背景是10kV的真空斷路器,其額定電流為5kA,標準合閘速度為1.0m/s。
4.1 觸頭材料對觸頭熔焊影響
仿真中涌流為20kA,具體比較情況見(jiàn)圖2。上面三條曲線(xiàn)分別是CuCr25、CuCr30、CuCr40三種觸頭材料的溫升曲線(xiàn),發(fā)現鉻含量越多,觸頭表面的溫度越高。
4.2 涌流對觸頭熔焊的影響研究
通過(guò)逐漸增大合閘涌流有效值的方法,計算出各種情況下觸頭表面導電斑點(diǎn)的溫升狀況,具體見(jiàn)圖3。
4.3合閘速度對觸頭熔焊的影響研究
在觸頭合閘行程不可變更的實(shí)際條件下,合閘速度是觸頭合閘時(shí)間的決定性因素,具體仿真結果見(jiàn)圖4。
[圖2 不同材料觸頭合閘過(guò)程中溫升比較][圖3 涌流有效值對合閘觸頭溫升的影響]
4.4 觸頭彈跳對觸頭熔焊的影響研究。觸頭彈跳有兩個(gè)重要參數,分別是觸頭彈跳振幅和觸頭彈跳衰減速度。觸頭彈跳振幅影響到溫升曲線(xiàn)振動(dòng)的振幅大小,而衰減速度則決定了觸頭溫升振動(dòng)的持續時(shí)間。實(shí)際生產(chǎn)中嚴格控制了彈跳振幅,衰減速度成為突出的問(wèn)題。衰減速度對觸頭溫升影響如圖5所示。
五、結論與展望
通過(guò)上述仿真可以看出,觸頭材料是決定觸頭溫升和熔焊的根本性原因,涌流是影響熔焊最嚴重的因素。觸頭合閘速度在一定范圍內增大,可以有效地減少觸頭發(fā)熱量。觸頭彈跳可以導致觸頭溫度持續上升。
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